说明
描述
Condition : Fair, Burn-in Oven to test both VLSI and memory devices, Tool ID : R5M2AD/BD
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老化测试设备
Abes IV
分类
晶圆测试
上次验证: 11 个月前
产品主要详细信息
状态:
Used
运行状况:
--
产品编号:
晶圆尺寸:
Year:
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