说明
描述
Condition Very Good, tool for micro probing of transistors at contact level 3 Probe heads, MP1-system with semiauto stage/optics Comes with : electronic rack with controllers for heads + PCs, probing enclosure unit with optical microscope+3 probe heads U
文件
无文件
纳米探测系统
MP1
分类
量测检测
上次验证: 11 个月前
产品主要详细信息
状态:
Used
运行状况:
--
产品编号:
晶圆尺寸:
Year:
2006
物流支持
可用
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可用
翻新服务
可用