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描述
MULTIPLE UNITS AVAILABLE. PLEASE INQUIRE. SEM - Critical Dimension (CD) Measurement Currently configured for 300mm wafers CE Marked Install Type: Stand Alone Cassette Interface: (3) 300mm FOUP Roll-Around Ergo-Station w/Touch-Screen Status Lamp
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扫描电子显微镜
NanoSEM 3D
Verified
分类
量测检测
上次验证: 11 个月前
产品主要详细信息
状态:
Used
运行状况:
--
产品编号:
晶圆尺寸:
Year:
2002
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