说明
描述
E-beam Inspection / SEMs in Microscopes, Optical Inspection
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晶圆检查系统
ES31
分类
量测检测
上次验证: 11 个月前
产品主要详细信息
状态:
Used
运行状况:
--
产品编号:
晶圆尺寸:
Year:
2004
物流支持
可用
Transaction Insured by Moov
可用
翻新服务
可用