说明
描述
设备完整不缺件,已翻新; Fully refurbished system for 150 & 200mm wafer TFMS version: V3.31a7 based on DOS Measurement tool : BPR, BPE, VAS BPR - Beam Profile Reflectometry : still the best way to characterize dielectric films BPE - TWI patented Beam Profile Ellipsom
文件
无文件
膜厚仪
OP2600
Verified
分类
量测检测
上次验证: 11 个月前
产品主要详细信息
状态:
Used
运行状况:
--
产品编号:
晶圆尺寸:
Year:
1997
物流支持
可用
Transaction Insured by Moov
可用
翻新服务
可用
相关上架商品
查看全部
Lasertack
PD-01341-E
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
JFW
50PA-521 SMA
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
SAMSUNG
LCMS-IT-TOF
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
OLYMPUS奥林巴斯
SZ-FLR
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
ZION TECH
ZT-CGD-1
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
KLA
AT500
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
INSTRUMENT SYSTEMS
CAS140B
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
TRIM
SSCMM-J2
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
JWON
JWS-300ST
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
MPS
NSS3020F
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
PROTEC
PRO-800
--
Year: --
状态: 运行中
Verified 11 个月前
相关上架商品
Lasertack
PD-01341-E
--
Year:--
状态: 运行中
JFW
50PA-521 SMA
--
Year:--
状态: 运行中
SAMSUNG
LCMS-IT-TOF
--
Year:--
状态: 运行中
OLYMPUS奥林巴斯
SZ-FLR
--
Year:--
状态: 运行中
ZION TECH
ZT-CGD-1
--
Year:--
状态: 运行中
--
Year:--
状态: 运行中
KLA
AT500
--
Year:--
状态: 运行中
INSTRUMENT SYSTEMS
CAS140B
--
Year:--
状态: 运行中
TRIM
SSCMM-J2
--
Year:--
状态: 运行中
JWON
JWS-300ST
--
Year:--
状态: 运行中
MPS
NSS3020F
--
Year:--
状态: 运行中
PROTEC
PRO-800
--
Year:--
状态: 运行中