全部分类
清洗设备 氧化扩散 光刻显影 刻蚀 薄膜沉积 离子注入 CMP设备 量测检测 晶圆测试 晶圆减薄切割 键合贴装 封装后处理 晶圆传输系统 真空及废气处理 流体供给
Language
中文 繁體中文 English 日本語 한국어

显示 1067 条结果

10 小时前

微分干涉对比显微镜

AXIOTRON8*8/AL100

量测检测

ZEISS

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

微分干涉对比显微镜

AXIOTRON8*8/AL100

量测检测

ZEISS

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

薄层电阻测量仪(新)

AW-gage200

量测检测

ALWIN

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

薄层电阻测量仪(新)

AW-gage200

量测检测

ALWIN

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

微分干涉对比显微镜

Auto LH

量测检测

Olympus

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

微分干涉对比显微镜

Auto L

量测检测

Olympus

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

微分干涉对比显微镜

Auto L

量测检测

Olympus

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

检漏仪

ASM182TD+

量测检测

Adixen

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

叠加测量系统

Archer

量测检测

KLA

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

表面分析仪

CS10

量测检测

KLA

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

扫描电子显微镜

SU-8010

量测检测

HITACHI

位置:

Year: 2017

联系询价

Verified
10 小时前

表面缺陷检测系统

8520

量测检测

KLA

位置:

Year: 2022

联系询价

Verified
10 小时前

膜厚仪

4150

量测检测

Nanometrics

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆探测仪

4090

量测检测

Electroglas

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

膜厚仪

3000

量测检测

N&K

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

膜厚测定仪

XDVM-P

量测检测

FISCHER

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

接触脚量测仪

FTA-1000B

量测检测

FTA

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

台式检漏仪

947

量测检测

Varian

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified