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显示 1067 条结果

10 小时前

集成电路参数分析仪

400

量测检测

Keithley

位置:国内

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10 小时前

表面缺陷检测仪

CS20R

量测检测

KLA

位置:国内

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10 小时前

自动传片显微镜

AL100BH3

量测检测

OLYMPUS

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10 小时前

自动传片显微镜

AL100BH3

量测检测

OLYMPUS

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10 小时前

自动传片显微镜

AL100BH3

量测检测

OLYMPUS

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10 小时前

自动传片显微镜

AL100BH3

量测检测

OLYMPUS

位置:国内

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10 小时前

自动传片显微镜

AL100BH3

量测检测

OLYMPUS

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10 小时前

自动传片显微镜

AL100BH3

量测检测

OLYMPUS

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10 小时前

晶圆厚度量测仪

3000-PHX

量测检测

AFT

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10 小时前

薄膜厚度量测仪

3000/4000/4150

量测检测

AFT

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10 小时前

同轴光源显微镜

MX-63-F

量测检测

OLYMPUS奥林巴斯

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10 小时前

显微镜

MX-63

量测检测

OLYMPUS奥林巴斯

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10 小时前

扫描电镜

S-7000

量测检测

HITACHI

位置:国内

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10 小时前

光学显微镜

Polyvar+AL100

量测检测

Olympus

位置:国内

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10 小时前

光学显微镜

Polyvar +AL100

量测检测

Olympus

位置:国内

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10 小时前

晶圆检测系统

SP1-TBI

量测检测

KLA

位置:

Year: 2000

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10 小时前

内存测试仪

KALOS XW

量测检测

LTX CREDENCE

位置:国外

Year: 2004

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10 小时前

扫描电子显微镜

S-4700

量测检测

HITACHI

位置:国外

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