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显示 1067 条结果

10 小时前

电子束检测设备

HMI EP3

量测检测

ASML

位置:国外

Year: 2014

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10 小时前

测试仪

S-2400

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 1991

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10 小时前

扫描电镜

S-3500N

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: --

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10 小时前

扫描电镜

S-4000

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 1990

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10 小时前

扫描电镜

S-6000

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 1989

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10 小时前

芯片缺陷检测系统

8720

量测检测

KLA

位置:国外

Year: --

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10 小时前

测试仪

SCL-10AVP

量测检测

NAPSON

位置:国内

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10 小时前

膜厚仪

OP2600

量测检测

KLA

位置:国内

Year: --

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10 小时前

光强测试仪

SE5

量测检测

ORC

位置:国内

Year: --

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10 小时前

测量仪

SFT-7100

量测检测

KOSAKA

位置:国内

Year: 1988

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10 小时前

测试仪

SM-350

量测检测

NAPSON

位置:国内

Year: 2001

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10 小时前

测试仪

SMAT200

量测检测

ULVAC

位置:国内

Year: 2000

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10 小时前

测试仪

SMI3050(C/W)

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 2004

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10 小时前

测试仪

SMX-1000

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 2007

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10 小时前

测试仪

SMX-160E

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 2001

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10 小时前

扫描电子显微镜

S9220

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: --

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10 小时前

薄膜测量系统

UV1250SE

量测检测

KLA

位置:国外

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10 小时前

薄膜量测系统

Aleris 8350

量测检测

KLA

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