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1067件の結果を表示

10 時間前

电子密度计

CAERUS MDS300

計測・検査

Manufacturing

所在地:国外

Year: 2010

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10 時間前

自动光学检测仪

VN-8000

計測・検査

PROFUSION

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

晶圆检测系统

SFS-6420

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 1995

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10 時間前

集成电路工艺制造用测试仪

PE3000/4

計測・検査

POLICY ELECTRONICS

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

投影设备

ZT-LP1000

計測・検査

ZILIX

所在地:国外

Year: 2005

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10 時間前

集成电路制造用测试仪

PE3000/4

計測・検査

POLICY ELECTRONICS

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

封装检测设备

BGA VISION INSPECTION SYSTEM

計測・検査

HANMI

所在地:国外

Year: 2005

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10 時間前

测定装备膜厚仪(新)

WT-2500

計測・検査

Semilab

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

测定装备膜厚仪(新)

WT-2500

計測・検査

Semilab

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

检测及计量设备

NSX115

計測・検査

Rudolph

所在地:国外

Year: 2009

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10 時間前

检测设备

DT-WDB-2050A

計測・検査

RBN

所在地:国外

Year: 2007

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10 時間前

光学轮廓仪

NT9800

計測・検査

VEECO

所在地:国外

Year: 2010

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10 時間前

影像测量系统

VMZ-R6555

計測・検査

NIKON

所在地:国外

Year: 2014

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10 時間前

焊接强度测试设备

4800

計測・検査

DAGE

所在地:国外

Year: 2016

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10 時間前

激光标记设备

LMC3200G

計測・検査

EO Technics

所在地:国外

Year: 2011

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10 時間前

薄膜应力测量仪

FLX-2320

計測・検査

TOHO

所在地:国内

Year: 1997

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10 時間前

光谱椭偏仪

SPECTRAFX 100

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2006

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10 時間前

微分干涉对比显微镜

AL100+MX61

計測・検査

Olympus

所在地:国内

Year: --

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