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1067件の結果を表示

10 時間前

分析设备

HPS-376KT

計測・検査

Hyer

所在地:国外

Year: 2007

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10 時間前

温度测试设备

T2500SEA

計測・検査

Thermonics

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

温度测试设备

T2500SE

計測・検査

Thermonics

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

反应室真空压力校正仪

IB-420

計測・検査

LUCAS LABS

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

反应室真空压力校正仪

IB-420

計測・検査

LUCAS LABS

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

光学检测仪

MV-8VDH

計測・検査

Mirtec

所在地:国外

Year: 2013

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10 時間前

集成电路参数分析仪

TS80

計測・検査

LTX

所在地:国内

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10 時間前

集成电路参数分析仪

TS80

計測・検査

LTX

所在地:国内

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10 時間前

集成电路工艺制造用测试仪

PE3000

計測・検査

LTX

所在地:国内

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10 時間前

膜厚测试仪

ALPHA Step 200

計測・検査

KLA

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10 時間前

扫描电子显微镜

S-5500

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

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10 時間前

显微镜

MX50

計測・検査

OLYMPUS

所在地:国内

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10 時間前

缺陷检测机

CRS-1010S

計測・検査

KLA

所在地:国内

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10 時間前

缺陷检测机

CRS-1010S

計測・検査

KLA

所在地:国内

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10 時間前

缺陷检测机

CRS-1010S

計測・検査

KLA

所在地:国内

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10 時間前

缺陷检测机

CRS-1010S

計測・検査

KLA

所在地:国内

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10 時間前

晶片制程缺陷检测机

2110

計測・検査

KLA

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10 時間前

膜厚测量仪

VM-1210

計測・検査

SCREEN

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