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1067件の結果を表示

10 時間前

表面颗粒物检测

Surfex200

計測・検査

PMS

所在地:国外

Year: 2013

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10 時間前

缺陷检测设备

DP2

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2012

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10 時間前

光掩模静电电荷测量设备

E-RETICLE V 4M

計測・検査

Estion

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Year: 2010

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10 時間前

测量分析设备

IPRO 7

計測・検査

M&W Products

所在地:国外

Year: 2012

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10 時間前

检测设备

MTX 2000/2/MIS SLIPBAY

計測・検査

Hologenix

所在地:国外

Year: 2001

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10 時間前

检测设备

QCEPT

計測・検査

QCEPT

所在地:国外

Year: 2011

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10 時間前

分析仪

EX300

計測・検査

Ametek/Cameca

所在地:国外

Year: 2011

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10 時間前

光刻测量设备

Caliper Q300

計測・検査

Nanometrics

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Year: 2003

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10 時間前

监测仪

TMB RTM

計測・検査

Extraction

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

集成电路参数分析仪

PRO-STA1

計測・検査

ALESSI

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10 時間前

检测和故障诊断

Meridian-IV

計測・検査

FEI

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Year: 2013

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10 時間前

精准度量测仪

Q7

計測・検査

Bio-Rad

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10 時間前

计量检测显微镜

Axiotron-2

計測・検査

Carl Zeiss

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10 時間前

精准度量测仪

Q7

計測・検査

Bio-Rad

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10 時間前

精准度量测仪

Q7

計測・検査

Bio-Rad

所在地:国内

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10 時間前

膜厚测量仪

HWM-2103

計測・検査

HUMAN

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10 時間前

色谱仪

1610

計測・検査

VWR Scientific

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10 時間前

激光粒子计数器

3313

計測・検査

Met One

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