中古半導体装置取引プラットフォーム | semicn.com
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1980 2026

1067件の結果を表示

10 時間前

薄膜量测

FX200

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2006

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

超分辨率显微镜

N-SIS 5

計測・検査

NIKON

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

晶圆检测设备

Viper-2438

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2008

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

晶圆检测设备

Viper2435

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2006

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

测试仪

4073A

計測・検査

Agilent

所在地:国外

Year: 2001

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Verified
10 時間前

测试仪

4073B

計測・検査

Agilent

所在地:国外

Year: 2005

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Verified
10 時間前

外延厚度量测

QS-1200

計測・検査

Onto Innovation

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

薄膜量测

FX200

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2008

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

扫描电子显微镜

S-9260A

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

扫描电子显微镜

S-4700

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: 2003

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Verified
10 時間前

高倍显微镜

Polyva SC/MX Series

計測・検査

Reichert

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

扫描电子显微镜

S-4800

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

透射电子显微镜

HL7800M

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

缺陷数据分析处理仪

2552

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

阻值测试仪

6MP3

計測・検査

CSM

所在地:国内

Year: 1994

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10 時間前

阻值测试仪

Mgage300

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 1993

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Verified
10 時間前

阻值测试仪

VP10

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 1995

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10 時間前

阻值测试仪

VP10E

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 1995

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