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1067件の結果を表示

10 時間前

方阻测试仪

RS55

計測・検査

KLA

所在地:

Year: 2000

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10 時間前

颗粒测试仪

SFS-7600M

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 1994/1995

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10 時間前

颗粒测试仪

SFS-7600

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 1995

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10 時間前

颗粒测试仪

SFS-7700

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 1995*2

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10 時間前

缺陷检查仪

AIT-8010

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 1998

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10 時間前

缺陷检查仪

CRS1010

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 1995/1996

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10 時間前

晶圆检测

OPTISTATION-3100

計測・検査

NIKON

所在地:国内

Year: 1992

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10 時間前

缺陷检测设备

2132

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 1995

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10 時間前

缺陷检查设备

2133

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 2011

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10 時間前

缺陷检查仪

AIT Ⅱ-I

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: 2001

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10 時間前

光掩膜检测仪

PR-PD2

計測・検査

HORIBA

所在地:国内

Year: 2000

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10 時間前

集成电路参数分析仪

DTS-CE

計測・検査

MOTOROLA

所在地:国内

Year: 1994*3/199

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10 時間前

集成电路参数分析仪

TS80

計測・検査

LTX

所在地:国内

Year: 1992*2/199

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10 時間前

集成电路参数分析仪

5500

計測・検査

TESEC

所在地:国内

Year: 2005

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10 時間前

芯片强度测试仪

1011

計測・検査

INSTRON

所在地:国内

Year: 1998

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10 時間前

交迭区测量仪

QUAESTOR

計測・検査

BIORAD

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

显微镜

AL100

計測・検査

OLYMPUS

所在地:国内

Year: 1994

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10 時間前

晶片离子数量测量仪

TP-500

計測・検査

Therma-Wave

所在地:

Year: 1997

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