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1067件の結果を表示

10 時間前

晶圆探测仪

P-8+

計測・検査

TEL

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10 時間前

晶圆探测仪

P-8+

計測・検査

TEL

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10 時間前

测量仪

P-11

計測・検査

KLA

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10 時間前

平面测量台阶仪

P-11

計測・検査

KLA

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10 時間前

膜厚仪

OP2600

計測・検査

Therma-wave

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10 時間前

膜厚仪

OP2600

計測・検査

Therma wave

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10 時間前

膜厚仪

6100

計測・検査

Nanometrics

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10 時間前

浓度计

HF-960M

計測・検査

HORIBA

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10 時間前

晶圆弯曲和晶圆应力测量

FLX-2908

計測・検査

KLA

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10 時間前

晶圆弯曲和晶圆应力测量

FLX-2320

計測・検査

KLA

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10 時間前

晶圆探测仪

STA2100N

計測・検査

ACCRETECH/TSK

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10 時間前

晶圆探测仪

STA2100N

計測・検査

ACCRETECH/TSK

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10 時間前

晶圆探测仪

STA2100N

計測・検査

ACCRETECH/TSK

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10 時間前

晶圆探测仪

STA2100N

計測・検査

ACCRETECH/TSK

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10 時間前

测量(新)

CSM/WIN C-V PLOT-C-V

計測・検査

MDC

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10 時間前

表面分析仪

CS20

計測・検査

KLA

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10 時間前

浓度计

CS-131-37

計測・検査

HORIBA

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10 時間前

低倍显微镜

C-PS

計測・検査

NIKON

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