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1067件の結果を表示

10 時間前

量测设备

5200XP

計測・検査

KLA

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10 時間前

薄膜测量系统

RS35C

計測・検査

Tencor Omnimap

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10 時間前

薄膜测量

2-4C

計測・検査

Rudolph

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10 時間前

薄膜测量

3620

計測・検査

RIGAKU

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10 時間前

光学显微镜

88

計測・検査

Optiphot

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10 時間前

检漏仪

UL100

計測・検査

Leybold

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10 時間前

薄膜测量

CS2

計測・検査

KLA

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10 時間前

薄膜测量

KS-1100

計測・検査

KEYENCE基恩士

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10 時間前

电子束缺陷检查设备

5200+

計測・検査

KLA

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10 時間前

薄膜测量

D8 XRD

計測・検査

Burker

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10 時間前

扫描电子显微镜

SU-1510

計測・検査

HITACHI

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10 時間前

扫描电子显微镜

S-806

計測・検査

HITACHI

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10 時間前

扫描电子显微镜

S-4800

計測・検査

HITACHI

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10 時間前

扫描电子显微镜

S-4500

計測・検査

HITACHI

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10 時間前

扫描电子显微镜

S-4700

計測・検査

HITACHI

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10 時間前

冷场发射扫描电镜

SU8230

計測・検査

HITACHI

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Year: 2021

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10 時間前

光掩模版检测仪

MD2000

計測・検査

LASERTEC

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10 時間前

薄膜测量系统

UV-1050

計測・検査

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