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中古半導体装置取引プラットフォーム | semicn.com
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1980 2026

1067件の結果を表示

10 時間前

台阶仪

P10/P11

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

台阶仪

P10/P11

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

台阶仪

P10/P11

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

粒子缺陷检测仪

CSX0

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

高温反向偏压试验系统

TYPE2(2000V,120DUT)

計測・検査

HTRB

所在地:国内

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10 時間前

轮廓测量仪

VR-5200 3D

計測・検査

KEYENCE

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10 時間前

金属厚度量测仪

Awgage-200

計測・検査

ALWIN21

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

薄膜厚度测量仪

3000/4000/4150

計測・検査

AFT

所在地:国内

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10 時間前

光掩模版检测仪

9MD83SR Ⅱ

計測・検査

KLA

所在地:国内

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10 時間前

晶圆检测设备

2350

計測・検査

KLA

所在地:国外

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10 時間前

晶圆检测系统

8620

計測・検査

KLA

所在地:国外

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10 時間前

扫描电子显微镜

S-9380Ⅱ

計測・検査

HITACHI

所在地:

Year: 2006-2007

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10 時間前

缺陷检测设备

FLX2908

計測・検査

KLA

所在地:国外

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10 時間前

带图像采集的高倍显微镜

Polyvar SC

計測・検査

Leica

所在地:国内

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10 時間前

带图像采集的高倍显微镜

Polyvar SC

計測・検査

Leica

所在地:国内

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10 時間前

手动显微镜

MZS1065

計測・検査

MTO

所在地:国内

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10 時間前

自动传片显微镜

MX61+AL110

計測・検査

OLYMPUS

所在地:国内

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10 時間前

表面缺陷检测仪

2132

計測・検査

KLA

所在地:国内

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