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1980 2026

1067件の結果を表示

10 時間前

寿命测试仪

LTA-330A

計測・検査

LEO

所在地:国内

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10 時間前

测试仪

TRILLIUM (Micro Master+)

計測・検査

LTX CREDENCE

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

检版机

VPRA-6

計測・検査

N/A

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

生化培养箱

LRH-150

計測・検査

N/A

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

膜厚测量仪

FT-750

計測・検査

KLA

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

膜厚测量仪

M-215

計測・検査

Nanometrics

所在地:国内

Year: 1989.05

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10 時間前

电阻率测试仪

RG-8

計測・検査

NAPSON

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Year: 1990

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10 時間前

显微镜

L150A/NWL641

計測・検査

NIKON

所在地:国内

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10 時間前

显微镜

SMZ-U

計測・検査

NIKON

所在地:国内

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10 時間前

显微镜

SMZ-U

計測・検査

NIKON

所在地:国内

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10 時間前

显微镜

OPT-V

計測・検査

NIKON

所在地:国内

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10 時間前

晶圆测量系统

NRM2

計測・検査

NIKON

所在地:国内

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10 時間前

光学检测设备

X6PF-UBD

計測・検査

NIKON

所在地:国内

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10 時間前

显微镜

OPTISTATION-3A

計測・検査

NIKON

所在地:国内

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10 時間前

显微镜

OPTISTATION 3A

計測・検査

NIKON

所在地:国内

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10 時間前

显微镜

OPTISTATION-3A

計測・検査

NIKON

所在地:国内

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10 時間前

显微镜

MX51

計測・検査

OLYMPUS奥林巴斯

所在地:国内

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10 時間前

显微镜

ECLIPSE L150A

計測・検査

OLYMPUS奥林巴斯

所在地:国内

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