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1067건의 결과 표시

10 시간 전

电子密度计

CAERUS MDS300

측정·검사

Manufacturing

위치:国外

Year: 2010

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10 시간 전

自动光学检测仪

VN-8000

측정·검사

PROFUSION

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

晶圆检测系统

SFS-6420

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 1995

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10 시간 전

集成电路工艺制造用测试仪

PE3000/4

측정·검사

POLICY ELECTRONICS

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

投影设备

ZT-LP1000

측정·검사

ZILIX

위치:国外

Year: 2005

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10 시간 전

集成电路制造用测试仪

PE3000/4

측정·검사

POLICY ELECTRONICS

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

封装检测设备

BGA VISION INSPECTION SYSTEM

측정·검사

HANMI

위치:国外

Year: 2005

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10 시간 전

测定装备膜厚仪(新)

WT-2500

측정·검사

Semilab

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

测定装备膜厚仪(新)

WT-2500

측정·검사

Semilab

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

检测及计量设备

NSX115

측정·검사

Rudolph

위치:国外

Year: 2009

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10 시간 전

检测设备

DT-WDB-2050A

측정·검사

RBN

위치:国外

Year: 2007

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10 시간 전

光学轮廓仪

NT9800

측정·검사

VEECO

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Year: 2010

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10 시간 전

影像测量系统

VMZ-R6555

측정·검사

NIKON

위치:国外

Year: 2014

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10 시간 전

焊接强度测试设备

4800

측정·검사

DAGE

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Year: 2016

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10 시간 전

激光标记设备

LMC3200G

측정·검사

EO Technics

위치:国外

Year: 2011

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10 시간 전

薄膜应力测量仪

FLX-2320

측정·검사

TOHO

위치:国内

Year: 1997

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10 시간 전

光谱椭偏仪

SPECTRAFX 100

측정·검사

KLA

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Year: 2006

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10 시간 전

微分干涉对比显微镜

AL100+MX61

측정·검사

Olympus

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