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1067건의 결과 표시

10 시간 전

量测设备

UVision 4

측정·검사

AMAT

위치:国外

Year: 2009

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10 시간 전

颗粒探测系统

PR-PD2

측정·검사

Horiba

위치:国外

Year: 2005

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10 시간 전

线宽测量仪

JWS7500E

측정·검사

JEOL

위치:国内

Year: --

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Verified
10 시간 전

电子显微镜

HD2300

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: 2006

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Verified
10 시간 전

场发射透射电子显微镜

JEM3200FS

측정·검사

JEOL

위치:国外

Year: 2006

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Verified
10 시간 전

晶圆缺陷检测系统

3Di8500

측정·검사

Rudolph

위치:国外

Year: 2008

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10 시간 전

失效分析仪

S-5000

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

晶圆检测设备

Axi-S

측정·검사

Rudolph

위치:国外

Year: 2005

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10 시간 전

微尘计数器

LS-6000

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

硅片厚度测试仪

IDF-112

측정·검사

HECKEL

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

光刻测量设备

Caliper Elan

측정·검사

Nanometrics

위치:国外

Year: 2005

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10 시간 전

光刻测量设备

Caliper Mosaic

측정·검사

Nanometrics

위치:国外

Year: 2011

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10 시간 전

表面轮廓仪

NANOMAPPER

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: 2006

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10 시간 전

哈克流变仪

RS6000

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: 2014

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10 시간 전

晶圆缺陷检测

IS3200SE

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: 2010

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10 시간 전

扫描电子显微镜

RS4000

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: 2007

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10 시간 전

超声波扫描仪

FS300Il

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: 2023

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10 시간 전

原子吸收光谱仪

ZA3300

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: 2021

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