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1067건의 결과 표시

10 시간 전

冷场发射扫描电镜

SU8230

측정·검사

HITACHI

위치:

Year: 2022

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10 시간 전

探针式表面检测仪

P170

측정·검사

KLA

위치:

Year: 2022

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10 시간 전

扫描电子显微镜

JSM-6010LV

측정·검사

JEOL

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

化学元素分析仪安捷伦

DX500

측정·검사

Agilent

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

缺陷检测设备

2132

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 1996

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10 시간 전

显微镜机台

NWL202TMB

측정·검사

NIKON

위치:国内

Year: 2022

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10 시간 전

显微镜机台

NWL202N/TMB

측정·검사

NIKON

위치:国内

Year: 2022

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10 시간 전

显微镜机台

NWL201TMB

측정·검사

NIKON

위치:国内

Year: 2022

가격 문의

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10 시간 전

显微镜机台

NWL200TMB

측정·검사

NIKON

위치:国内

Year: 2022

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10 시간 전

光罩检验显微镜

L300ND

측정·검사

NIKON

위치:国内

Year: 2017

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10 시간 전

显微镜

L200N

측정·검사

NIKON

위치:国内

Year: 2022

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10 시간 전

液体颗粒监测仪

CLS-700

측정·검사

PMS

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

晶圆检测设备

8935i

측정·검사

KLA

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Year: 2022

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10 시간 전

扫描电子显微镜

S9220

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: 2000

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10 시간 전

晶圆检测设备

8920i

측정·검사

KLA

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Year: 2022

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10 시간 전

电子显微镜

300

측정·검사

FEI

위치:国外

Year: 2004

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10 시간 전

网络分析仪

E8510C

측정·검사

Agilent

위치:国外

Year: 2001

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10 시간 전

电子显微量测仪器

CDSEM 9300

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: --

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