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1067건의 결과 표시

10 시간 전

原子力显微镜

Insight 3D

측정·검사

Bruker

위치:国外

Year: 2017

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10 시간 전

薄膜测量分析设备

PS-2000

측정·검사

Semilab

위치:国外

Year: 2015

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10 시간 전

显微镜

PMG3

측정·검사

OLYMPUS奥林巴斯

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

能谱仪

X- ACT

측정·검사

Camtek

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Year: 2012

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10 시간 전

测量设备

RSR160

측정·검사

RORZE

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Year: 2017

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10 시간 전

光谱仪

Q200I

측정·검사

Nanometrics

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Year: 2002

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10 시간 전

光学检测计量设备

UVision 5

측정·검사

AMAT

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Year: 2011

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10 시간 전

图示仪

TCT-2004

측정·검사

KDK

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

显微镜

Holographic Microscope

측정·검사

LYNCEE TEC

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Year: 2012

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10 시간 전

射线计量设备

JVX7300

측정·검사

Jordan Valley

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Year: 2012

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10 시간 전

电子束检测设备

eP4

측정·검사

Hermes

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Year: 2017

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10 시간 전

激光扫描发射系统

300 TDE

측정·검사

CHECKPOINT

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Year: 2011

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10 시간 전

分析设备

P13010

측정·검사

ANCOSYS

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Year: 2011

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10 시간 전

电子显微镜

1030

측정·검사

E.A. Fischione

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Year: 2005

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10 시간 전

透射电子显微镜

ARM200CF Super X

측정·검사

JEOL

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Year: 2014

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10 시간 전

晶圆检测测量

ExSolve 2 WTP EFEM

측정·검사

FEI

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Year: 2017

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10 시간 전

扫描电子显微镜

LEA1530

측정·검사

Carl Zeiss

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Year: 2002

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10 시간 전

电子显微镜

HF-2000

측정·검사

HITACHI

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Year: 1995

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