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1067건의 결과 표시

10 시간 전

计量检测

HS-830

측정·검사

TORAY

위치:国外

Year: 2010

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10 시간 전

薄膜分析设备

JVX6200i

측정·검사

Jordan Valley

위치:国外

Year: 2011

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10 시간 전

光学显微镜

Polyvar +AL100

측정·검사

Olympus

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

光学显微镜

Optiphot300

측정·검사

NIKON

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

脉冲信号发生器

81110A

측정·검사

Agilent

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Year: --

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10 시간 전

扫描电子显微镜

JWS-7555

측정·검사

JEOL

위치:国外

Year: 2002

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10 시간 전

检测设备

SPVCMS4000

측정·검사

Semilab

위치:国外

Year: 1995

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10 시간 전

薄膜测量系统

Polylite 88

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

扫描电子显微镜

JWS-7515

측정·검사

JEOL

위치:国外

Year: 1999

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10 시간 전

晶圆检测设备

PEGSIS P100

측정·검사

LASERTEC

위치:国外

Year: 2011

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10 시간 전

扫描电子显微镜

S5000

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: 1997

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10 시간 전

晶圆载台控制器

CRS1010

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: 1998

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10 시간 전

光检查系统

XSCAN-A130H

측정·검사

XAVIS

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

计数器

Lasair 110

측정·검사

PMS

위치:国外

Year: 2013

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10 시간 전

晶圆厚度量测仪

UMA-200-BP

측정·검사

MicroSense

위치:国内

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10 시간 전

薄膜厚度测量仪

TWI-OP5×40

측정·검사

NIHON DENSAN

위치:国内

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10 시간 전

薄膜计量设备

V220SI

측정·검사

VEECO

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

检测设备

PDS-100

측정·검사

VLSI Standard

위치:国外

Year: 2000

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