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1067건의 결과 표시

10 시간 전

方阻测试仪

RS55

측정·검사

KLA

위치:

Year: 2000

가격 문의

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10 시간 전

颗粒测试仪

SFS-7600M

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 1994/1995

가격 문의

Verified
10 시간 전

颗粒测试仪

SFS-7600

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 1995

가격 문의

Verified
10 시간 전

颗粒测试仪

SFS-7700

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 1995*2

가격 문의

Verified
10 시간 전

缺陷检查仪

AIT-8010

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 1998

가격 문의

Verified
10 시간 전

缺陷检查仪

CRS1010

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 1995/1996

가격 문의

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10 시간 전

晶圆检测

OPTISTATION-3100

측정·검사

NIKON

위치:国内

Year: 1992

가격 문의

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10 시간 전

缺陷检测设备

2132

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 1995

가격 문의

Verified
10 시간 전

缺陷检查设备

2133

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 2011

가격 문의

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10 시간 전

缺陷检查仪

AIT Ⅱ-I

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 2001

가격 문의

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10 시간 전

光掩膜检测仪

PR-PD2

측정·검사

HORIBA

위치:国内

Year: 2000

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10 시간 전

集成电路参数分析仪

DTS-CE

측정·검사

MOTOROLA

위치:国内

Year: 1994*3/199

가격 문의

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10 시간 전

集成电路参数分析仪

TS80

측정·검사

LTX

위치:国内

Year: 1992*2/199

가격 문의

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10 시간 전

集成电路参数分析仪

5500

측정·검사

TESEC

위치:国内

Year: 2005

가격 문의

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10 시간 전

芯片强度测试仪

1011

측정·검사

INSTRON

위치:国内

Year: 1998

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10 시간 전

交迭区测量仪

QUAESTOR

측정·검사

BIORAD

위치:国内

Year: --

가격 문의

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10 시간 전

显微镜

AL100

측정·검사

OLYMPUS

위치:国内

Year: 1994

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10 시간 전

晶片离子数量测量仪

TP-500

측정·검사

Therma-Wave

위치:

Year: 1997

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