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1067건의 결과 표시

10 시간 전

晶圆探测仪

P-8+

측정·검사

TEL

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10 시간 전

晶圆探测仪

P-8+

측정·검사

TEL

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10 시간 전

测量仪

P-11

측정·검사

KLA

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10 시간 전

平面测量台阶仪

P-11

측정·검사

KLA

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10 시간 전

膜厚仪

OP2600

측정·검사

Therma-wave

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10 시간 전

膜厚仪

OP2600

측정·검사

Therma wave

위치:国内

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10 시간 전

膜厚仪

6100

측정·검사

Nanometrics

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10 시간 전

浓度计

HF-960M

측정·검사

HORIBA

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10 시간 전

晶圆弯曲和晶圆应力测量

FLX-2908

측정·검사

KLA

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10 시간 전

晶圆弯曲和晶圆应力测量

FLX-2320

측정·검사

KLA

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10 시간 전

晶圆探测仪

STA2100N

측정·검사

ACCRETECH/TSK

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10 시간 전

晶圆探测仪

STA2100N

측정·검사

ACCRETECH/TSK

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10 시간 전

晶圆探测仪

STA2100N

측정·검사

ACCRETECH/TSK

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10 시간 전

晶圆探测仪

STA2100N

측정·검사

ACCRETECH/TSK

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10 시간 전

测量(新)

CSM/WIN C-V PLOT-C-V

측정·검사

MDC

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10 시간 전

表面分析仪

CS20

측정·검사

KLA

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10 시간 전

浓度计

CS-131-37

측정·검사

HORIBA

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10 시간 전

低倍显微镜

C-PS

측정·검사

NIKON

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