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1067건의 결과 표시

10 시간 전

微分干涉对比显微镜

AXIOTRON8*8/AL100

측정·검사

ZEISS

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10 시간 전

微分干涉对比显微镜

AXIOTRON8*8/AL100

측정·검사

ZEISS

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10 시간 전

薄层电阻测量仪(新)

AW-gage200

측정·검사

ALWIN

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10 시간 전

薄层电阻测量仪(新)

AW-gage200

측정·검사

ALWIN

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10 시간 전

微分干涉对比显微镜

Auto LH

측정·검사

Olympus

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10 시간 전

微分干涉对比显微镜

Auto L

측정·검사

Olympus

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10 시간 전

微分干涉对比显微镜

Auto L

측정·검사

Olympus

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10 시간 전

检漏仪

ASM182TD+

측정·검사

Adixen

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10 시간 전

叠加测量系统

Archer

측정·검사

KLA

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10 시간 전

表面分析仪

CS10

측정·검사

KLA

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10 시간 전

扫描电子显微镜

SU-8010

측정·검사

HITACHI

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Year: 2017

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10 시간 전

表面缺陷检测系统

8520

측정·검사

KLA

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Year: 2022

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10 시간 전

膜厚仪

4150

측정·검사

Nanometrics

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10 시간 전

晶圆探测仪

4090

측정·검사

Electroglas

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10 시간 전

膜厚仪

3000

측정·검사

N&K

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10 시간 전

膜厚测定仪

XDVM-P

측정·검사

FISCHER

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10 시간 전

接触脚量测仪

FTA-1000B

측정·검사

FTA

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10 시간 전

台式检漏仪

947

측정·검사

Varian

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