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1067건의 결과 표시

10 시간 전

集成电路参数分析仪

400

측정·검사

Keithley

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

表面缺陷检测仪

CS20R

측정·검사

KLA

위치:国内

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10 시간 전

自动传片显微镜

AL100BH3

측정·검사

OLYMPUS

위치:国内

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10 시간 전

自动传片显微镜

AL100BH3

측정·검사

OLYMPUS

위치:国内

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가격 문의

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10 시간 전

自动传片显微镜

AL100BH3

측정·검사

OLYMPUS

위치:国内

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10 시간 전

自动传片显微镜

AL100BH3

측정·검사

OLYMPUS

위치:国内

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가격 문의

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10 시간 전

自动传片显微镜

AL100BH3

측정·검사

OLYMPUS

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10 시간 전

自动传片显微镜

AL100BH3

측정·검사

OLYMPUS

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10 시간 전

晶圆厚度量测仪

3000-PHX

측정·검사

AFT

위치:国内

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10 시간 전

薄膜厚度量测仪

3000/4000/4150

측정·검사

AFT

위치:国内

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10 시간 전

同轴光源显微镜

MX-63-F

측정·검사

OLYMPUS奥林巴斯

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10 시간 전

显微镜

MX-63

측정·검사

OLYMPUS奥林巴斯

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10 시간 전

扫描电镜

S-7000

측정·검사

HITACHI

위치:国内

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10 시간 전

光学显微镜

Polyvar+AL100

측정·검사

Olympus

위치:国内

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10 시간 전

光学显微镜

Polyvar +AL100

측정·검사

Olympus

위치:国内

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10 시간 전

晶圆检测系统

SP1-TBI

측정·검사

KLA

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Year: 2000

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10 시간 전

内存测试仪

KALOS XW

측정·검사

LTX CREDENCE

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Year: 2004

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10 시간 전

扫描电子显微镜

S-4700

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: --

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