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1067건의 결과 표시

10 시간 전

电子束检测设备

HMI EP3

측정·검사

ASML

위치:国外

Year: 2014

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10 시간 전

测试仪

S-2400

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: 1991

가격 문의

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10 시간 전

扫描电镜

S-3500N

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: --

가격 문의

Verified
10 시간 전

扫描电镜

S-4000

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: 1990

가격 문의

Verified
10 시간 전

扫描电镜

S-6000

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: 1989

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10 시간 전

芯片缺陷检测系统

8720

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

测试仪

SCL-10AVP

측정·검사

NAPSON

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

膜厚仪

OP2600

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

光强测试仪

SE5

측정·검사

ORC

위치:国内

Year: --

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10 시간 전

测量仪

SFT-7100

측정·검사

KOSAKA

위치:国内

Year: 1988

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10 시간 전

测试仪

SM-350

측정·검사

NAPSON

위치:国内

Year: 2001

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10 시간 전

测试仪

SMAT200

측정·검사

ULVAC

위치:国内

Year: 2000

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10 시간 전

测试仪

SMI3050(C/W)

측정·검사

KLA

위치:国内

Year: 2004

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10 시간 전

测试仪

SMX-1000

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: 2007

가격 문의

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10 시간 전

测试仪

SMX-160E

측정·검사

HITACHI

위치:国内

Year: 2001

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10 시간 전

扫描电子显微镜

S9220

측정·검사

HITACHI

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

薄膜测量系统

UV1250SE

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: --

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10 시간 전

薄膜量测系统

Aleris 8350

측정·검사

KLA

위치:国外

Year: --

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