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1067건의 결과 표시

10 시간 전

缺陷检测设备

2131

측정·검사

KLA

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10 시간 전

光罩缺陷检测设备

MAC-92

측정·검사

TOKYO

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10 시간 전

掩模缺陷检测设备

9MD62S

측정·검사

LASERTEC

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10 시간 전

光罩缺陷检测设备

IRG-12

측정·검사

SONY

위치:国外

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10 시간 전

扫描电子显微镜

S-9220

측정·검사

HITACHI

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10 시간 전

膜厚测试仪

MP200

측정·검사

Rudolph

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10 시간 전

膜厚测试仪

MPC 200XCu

측정·검사

Rudolph

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10 시간 전

量测设备

L115C 1520AK

측정·검사

MIWA

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10 시간 전

膜厚测试仪

MP200

측정·검사

Rudolph

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10 시간 전

量测设备

ST-3525

측정·검사

NONE

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10 시간 전

量测设备

WS-211-4-FAR

측정·검사

NONE

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10 시간 전

量测设备

NWS-200R

측정·검사

NONE

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10 시간 전

显微镜

BH2

측정·검사

OLYMPUS

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10 시간 전

显微镜

BH2

측정·검사

OLYMPUS

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10 시간 전

显微镜

BH2

측정·검사

OLYMPUS

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10 시간 전

显微镜

INSPB01

측정·검사

OLYMPUS

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10 시간 전

显微镜

IM-15

측정·검사

NIDEK

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10 시간 전

显微镜

IM-15

측정·검사

NIDEK

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