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顯示 1067 筆結果

10 小時前

分析设备

HPS-376KT

量測檢測

Hyer

地點:国外

Year: 2007

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10 小時前

温度测试设备

T2500SEA

量測檢測

Thermonics

地點:国外

Year: --

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10 小時前

温度测试设备

T2500SE

量測檢測

Thermonics

地點:国外

Year: --

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10 小時前

反应室真空压力校正仪

IB-420

量測檢測

LUCAS LABS

地點:国内

Year: --

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10 小時前

反应室真空压力校正仪

IB-420

量測檢測

LUCAS LABS

地點:国内

Year: --

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10 小時前

光学检测仪

MV-8VDH

量測檢測

Mirtec

地點:国外

Year: 2013

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10 小時前

集成电路参数分析仪

TS80

量測檢測

LTX

地點:国内

Year: --

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10 小時前

集成电路参数分析仪

TS80

量測檢測

LTX

地點:国内

Year: --

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10 小時前

集成电路工艺制造用测试仪

PE3000

量測檢測

LTX

地點:国内

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10 小時前

膜厚测试仪

ALPHA Step 200

量測檢測

KLA

地點:国内

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10 小時前

扫描电子显微镜

S-5500

量測檢測

HITACHI

地點:国外

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10 小時前

显微镜

MX50

量測檢測

OLYMPUS

地點:国内

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10 小時前

缺陷检测机

CRS-1010S

量測檢測

KLA

地點:国内

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10 小時前

缺陷检测机

CRS-1010S

量測檢測

KLA

地點:国内

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10 小時前

缺陷检测机

CRS-1010S

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: --

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10 小時前

缺陷检测机

CRS-1010S

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: --

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10 小時前

晶片制程缺陷检测机

2110

量測檢測

KLA

地點:国内

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10 小時前

膜厚测量仪

VM-1210

量測檢測

SCREEN

地點:

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