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顯示 1067 筆結果

10 小時前

原子力显微镜

Insight 3D

量測檢測

Bruker

地點:国外

Year: 2017

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10 小時前

薄膜测量分析设备

PS-2000

量測檢測

Semilab

地點:国外

Year: 2015

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10 小時前

显微镜

PMG3

量測檢測

OLYMPUS奥林巴斯

地點:国外

Year: --

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10 小時前

能谱仪

X- ACT

量測檢測

Camtek

地點:国外

Year: 2012

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10 小時前

测量设备

RSR160

量測檢測

RORZE

地點:国外

Year: 2017

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10 小時前

光谱仪

Q200I

量測檢測

Nanometrics

地點:国外

Year: 2002

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10 小時前

光学检测计量设备

UVision 5

量測檢測

AMAT

地點:国外

Year: 2011

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10 小時前

图示仪

TCT-2004

量測檢測

KDK

地點:国内

Year: --

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10 小時前

显微镜

Holographic Microscope

量測檢測

LYNCEE TEC

地點:国外

Year: 2012

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10 小時前

射线计量设备

JVX7300

量測檢測

Jordan Valley

地點:国外

Year: 2012

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10 小時前

电子束检测设备

eP4

量測檢測

Hermes

地點:国外

Year: 2017

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10 小時前

激光扫描发射系统

300 TDE

量測檢測

CHECKPOINT

地點:国外

Year: 2011

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10 小時前

分析设备

P13010

量測檢測

ANCOSYS

地點:国外

Year: 2011

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10 小時前

电子显微镜

1030

量測檢測

E.A. Fischione

地點:国外

Year: 2005

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10 小時前

透射电子显微镜

ARM200CF Super X

量測檢測

JEOL

地點:国外

Year: 2014

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10 小時前

晶圆检测测量

ExSolve 2 WTP EFEM

量測檢測

FEI

地點:国外

Year: 2017

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10 小時前

扫描电子显微镜

LEA1530

量測檢測

Carl Zeiss

地點:国外

Year: 2002

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10 小時前

电子显微镜

HF-2000

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: 1995

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