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顯示 1067 筆結果

10 小時前

计量检测

HS-830

量測檢測

TORAY

地點:国外

Year: 2010

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10 小時前

薄膜分析设备

JVX6200i

量測檢測

Jordan Valley

地點:国外

Year: 2011

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10 小時前

光学显微镜

Polyvar +AL100

量測檢測

Olympus

地點:国内

Year: --

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10 小時前

光学显微镜

Optiphot300

量測檢測

NIKON

地點:国内

Year: --

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10 小時前

脉冲信号发生器

81110A

量測檢測

Agilent

地點:国外

Year: --

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10 小時前

扫描电子显微镜

JWS-7555

量測檢測

JEOL

地點:国外

Year: 2002

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10 小時前

检测设备

SPVCMS4000

量測檢測

Semilab

地點:国外

Year: 1995

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10 小時前

薄膜测量系统

Polylite 88

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

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10 小時前

扫描电子显微镜

JWS-7515

量測檢測

JEOL

地點:国外

Year: 1999

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10 小時前

晶圆检测设备

PEGSIS P100

量測檢測

LASERTEC

地點:国外

Year: 2011

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10 小時前

扫描电子显微镜

S5000

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: 1997

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10 小時前

晶圆载台控制器

CRS1010

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 1998

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10 小時前

光检查系统

XSCAN-A130H

量測檢測

XAVIS

地點:国内

Year: --

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10 小時前

计数器

Lasair 110

量測檢測

PMS

地點:国外

Year: 2013

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10 小時前

晶圆厚度量测仪

UMA-200-BP

量測檢測

MicroSense

地點:国内

Year: --

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10 小時前

薄膜厚度测量仪

TWI-OP5×40

量測檢測

NIHON DENSAN

地點:国内

Year: --

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10 小時前

薄膜计量设备

V220SI

量測檢測

VEECO

地點:国外

Year: --

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10 小時前

检测设备

PDS-100

量測檢測

VLSI Standard

地點:国外

Year: 2000

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