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清洗設備 氧化擴散 光刻顯影 蝕刻 薄膜沉積 離子植入 CMP設備 量測檢測 晶圓測試 晶圓減薄切割 鍵合貼裝 封裝後處理 晶圓傳輸系統 真空及廢氣處理 流體供給
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顯示 1067 筆結果

10 小時前

薄膜量测

FX200

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2006

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Verified
10 小時前

超分辨率显微镜

N-SIS 5

量測檢測

NIKON

地點:国外

Year: --

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Verified
10 小時前

晶圆检测设备

Viper-2438

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2008

聯繫詢價

Verified
10 小時前

晶圆检测设备

Viper2435

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2006

聯繫詢價

Verified
10 小時前

测试仪

4073A

量測檢測

Agilent

地點:国外

Year: 2001

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Verified
10 小時前

测试仪

4073B

量測檢測

Agilent

地點:国外

Year: 2005

聯繫詢價

Verified
10 小時前

外延厚度量测

QS-1200

量測檢測

Onto Innovation

地點:国内

Year: --

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10 小時前

薄膜量测

FX200

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2008

聯繫詢價

Verified
10 小時前

扫描电子显微镜

S-9260A

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

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10 小時前

扫描电子显微镜

S-4700

量測檢測

HITACHI

地點:国内

Year: 2003

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10 小時前

高倍显微镜

Polyva SC/MX Series

量測檢測

Reichert

地點:国内

Year: --

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10 小時前

扫描电子显微镜

S-4800

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

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10 小時前

透射电子显微镜

HL7800M

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: --

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10 小時前

缺陷数据分析处理仪

2552

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

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10 小時前

阻值测试仪

6MP3

量測檢測

CSM

地點:国内

Year: 1994

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10 小時前

阻值测试仪

Mgage300

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: 1993

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10 小時前

阻值测试仪

VP10

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: 1995

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10 小時前

阻值测试仪

VP10E

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: 1995

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