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顯示 1067 筆結果

10 小時前

晶圆探测仪

P-8+

量測檢測

TEL

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10 小時前

晶圆探测仪

P-8+

量測檢測

TEL

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10 小時前

测量仪

P-11

量測檢測

KLA

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10 小時前

平面测量台阶仪

P-11

量測檢測

KLA

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10 小時前

膜厚仪

OP2600

量測檢測

Therma-wave

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10 小時前

膜厚仪

OP2600

量測檢測

Therma wave

地點:国内

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10 小時前

膜厚仪

6100

量測檢測

Nanometrics

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10 小時前

浓度计

HF-960M

量測檢測

HORIBA

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10 小時前

晶圆弯曲和晶圆应力测量

FLX-2908

量測檢測

KLA

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10 小時前

晶圆弯曲和晶圆应力测量

FLX-2320

量測檢測

KLA

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10 小時前

晶圆探测仪

STA2100N

量測檢測

ACCRETECH/TSK

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10 小時前

晶圆探测仪

STA2100N

量測檢測

ACCRETECH/TSK

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10 小時前

晶圆探测仪

STA2100N

量測檢測

ACCRETECH/TSK

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10 小時前

晶圆探测仪

STA2100N

量測檢測

ACCRETECH/TSK

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10 小時前

测量(新)

CSM/WIN C-V PLOT-C-V

量測檢測

MDC

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10 小時前

表面分析仪

CS20

量測檢測

KLA

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10 小時前

浓度计

CS-131-37

量測檢測

HORIBA

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10 小時前

低倍显微镜

C-PS

量測檢測

NIKON

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