全部分類
清洗設備 氧化擴散 光刻顯影 蝕刻 薄膜沉積 離子植入 CMP設備 量測檢測 晶圓測試 晶圓減薄切割 鍵合貼裝 封裝後處理 晶圓傳輸系統 真空及廢氣處理 流體供給
Language
中文 繁體中文 English 日本語 한국어

顯示 1067 筆結果

10 小時前

晶圆检测系统

SP1-TBI

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

光谱仪

FE-Ⅳ

量測檢測

Rudolph

地點:国外

Year: 1995

聯繫詢價

Verified
10 小時前

光谱仪

FE-Ⅶ

量測檢測

Rudolph

地點:国外

Year: 2002

聯繫詢價

Verified
10 小時前

薄膜电阻测量设备

M-Gage 300

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2001

聯繫詢價

Verified
10 小時前

晶圆检测仪

AXI-935

量測檢測

Rudolph

地點:国内

Year: 2007

聯繫詢價

Verified
10 小時前

检测及计量设备

NSX-105

量測檢測

Rudolph

地點:国外

Year: 2008

聯繫詢價

Verified
10 小時前

中束流离子注入机

Vera SEM 3D

量測檢測

AMAT

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

中束流离子注入机

Vera SEM 3D

量測檢測

AMAT

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

晶圆计量与检测设备

ADE-9500

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

显微镜

STM-6

量測檢測

OLYMPUS奥林巴斯

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

薄膜测厚仪

F20

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2021

聯繫詢價

Verified
10 小時前

薄膜测量系统

UV-1280SE

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: 2000

聯繫詢價

Verified
10 小時前

晶圆检测设备

8935-FFC

量測檢測

KLA

地點:

Year: 2022

聯繫詢價

Verified
10 小時前

扫描电子显微镜

S-8820

量測檢測

HITACHI

地點:

Year: 1996

聯繫詢價

Verified
10 小時前

扫描电子显微镜

S-4500

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: 1995

聯繫詢價

Verified
10 小時前

扫描电子显微镜

S-5200

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

晶圆缺陷检测设备

Acrotec-6020

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

聯繫詢價

Verified
10 小時前

扫描电子显微镜

S-4700

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: 2001

聯繫詢價

Verified