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顯示 1067 筆結果

10 小時前

电子束检测设备

HMI EP3

量測檢測

ASML

地點:国外

Year: 2014

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10 小時前

测试仪

S-2400

量測檢測

HITACHI

地點:国内

Year: 1991

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10 小時前

扫描电镜

S-3500N

量測檢測

HITACHI

地點:国内

Year: --

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10 小時前

扫描电镜

S-4000

量測檢測

HITACHI

地點:国内

Year: 1990

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10 小時前

扫描电镜

S-6000

量測檢測

HITACHI

地點:国内

Year: 1989

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10 小時前

芯片缺陷检测系统

8720

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

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10 小時前

测试仪

SCL-10AVP

量測檢測

NAPSON

地點:国内

Year: --

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10 小時前

膜厚仪

OP2600

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: --

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10 小時前

光强测试仪

SE5

量測檢測

ORC

地點:国内

Year: --

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10 小時前

测量仪

SFT-7100

量測檢測

KOSAKA

地點:国内

Year: 1988

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10 小時前

测试仪

SM-350

量測檢測

NAPSON

地點:国内

Year: 2001

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10 小時前

测试仪

SMAT200

量測檢測

ULVAC

地點:国内

Year: 2000

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10 小時前

测试仪

SMI3050(C/W)

量測檢測

KLA

地點:国内

Year: 2004

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10 小時前

测试仪

SMX-1000

量測檢測

HITACHI

地點:国内

Year: 2007

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10 小時前

测试仪

SMX-160E

量測檢測

HITACHI

地點:国内

Year: 2001

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10 小時前

扫描电子显微镜

S9220

量測檢測

HITACHI

地點:国外

Year: --

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10 小時前

薄膜测量系统

UV1250SE

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

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10 小時前

薄膜量测系统

Aleris 8350

量測檢測

KLA

地點:国外

Year: --

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