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显示 1067 条结果

10 小时前

量测设备

UVision 4

量测检测

AMAT

位置:国外

Year: 2009

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10 小时前

颗粒探测系统

PR-PD2

量测检测

Horiba

位置:国外

Year: 2005

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10 小时前

线宽测量仪

JWS7500E

量测检测

JEOL

位置:国内

Year: --

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10 小时前

电子显微镜

HD2300

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: 2006

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10 小时前

场发射透射电子显微镜

JEM3200FS

量测检测

JEOL

位置:国外

Year: 2006

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10 小时前

晶圆缺陷检测系统

3Di8500

量测检测

Rudolph

位置:国外

Year: 2008

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10 小时前

失效分析仪

S-5000

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: --

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10 小时前

晶圆检测设备

Axi-S

量测检测

Rudolph

位置:国外

Year: 2005

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10 小时前

微尘计数器

LS-6000

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: --

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10 小时前

硅片厚度测试仪

IDF-112

量测检测

HECKEL

位置:国内

Year: --

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10 小时前

光刻测量设备

Caliper Elan

量测检测

Nanometrics

位置:国外

Year: 2005

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10 小时前

光刻测量设备

Caliper Mosaic

量测检测

Nanometrics

位置:国外

Year: 2011

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10 小时前

表面轮廓仪

NANOMAPPER

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2006

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10 小时前

哈克流变仪

RS6000

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: 2014

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10 小时前

晶圆缺陷检测

IS3200SE

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: 2010

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10 小时前

扫描电子显微镜

RS4000

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: 2007

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10 小时前

超声波扫描仪

FS300Il

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 2023

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10 小时前

原子吸收光谱仪

ZA3300

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 2021

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