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显示 1067 条结果

10 小时前

薄膜量测

FX200

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2006

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10 小时前

超分辨率显微镜

N-SIS 5

量测检测

NIKON

位置:国外

Year: --

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10 小时前

晶圆检测设备

Viper-2438

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2008

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10 小时前

晶圆检测设备

Viper2435

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2006

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10 小时前

测试仪

4073A

量测检测

Agilent

位置:国外

Year: 2001

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10 小时前

测试仪

4073B

量测检测

Agilent

位置:国外

Year: 2005

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10 小时前

外延厚度量测

QS-1200

量测检测

Onto Innovation

位置:国内

Year: --

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10 小时前

薄膜量测

FX200

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2008

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10 小时前

扫描电子显微镜

S-9260A

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: --

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10 小时前

扫描电子显微镜

S-4700

量测检测

HITACHI

位置:国内

Year: 2003

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10 小时前

高倍显微镜

Polyva SC/MX Series

量测检测

Reichert

位置:国内

Year: --

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10 小时前

扫描电子显微镜

S-4800

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: --

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10 小时前

透射电子显微镜

HL7800M

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: --

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10 小时前

缺陷数据分析处理仪

2552

量测检测

KLA

位置:国外

Year: --

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10 小时前

阻值测试仪

6MP3

量测检测

CSM

位置:国内

Year: 1994

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10 小时前

阻值测试仪

Mgage300

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1993

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10 小时前

阻值测试仪

VP10

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1995

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10 小时前

阻值测试仪

VP10E

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1995

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