全部分类
清洗设备 氧化扩散 光刻显影 刻蚀 薄膜沉积 离子注入 CMP设备 量测检测 晶圆测试 晶圆减薄切割 键合贴装 封装后处理 晶圆传输系统 真空及废气处理 流体供给
Language
中文 繁體中文 English 日本語 한국어

显示 1067 条结果

10 小时前

方阻测试仪

RS55

量测检测

KLA

位置:

Year: 2000

联系询价

Verified
10 小时前

颗粒测试仪

SFS-7600M

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1994/1995

联系询价

Verified
10 小时前

颗粒测试仪

SFS-7600

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1995

联系询价

Verified
10 小时前

颗粒测试仪

SFS-7700

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1995*2

联系询价

Verified
10 小时前

缺陷检查仪

AIT-8010

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1998

联系询价

Verified
10 小时前

缺陷检查仪

CRS1010

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1995/1996

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆检测

OPTISTATION-3100

量测检测

NIKON

位置:国内

Year: 1992

联系询价

Verified
10 小时前

缺陷检测设备

2132

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1995

联系询价

Verified
10 小时前

缺陷检查设备

2133

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 2011

联系询价

Verified
10 小时前

缺陷检查仪

AIT Ⅱ-I

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 2001

联系询价

Verified
10 小时前

光掩膜检测仪

PR-PD2

量测检测

HORIBA

位置:国内

Year: 2000

联系询价

Verified
10 小时前

集成电路参数分析仪

DTS-CE

量测检测

MOTOROLA

位置:国内

Year: 1994*3/199

联系询价

Verified
10 小时前

集成电路参数分析仪

TS80

量测检测

LTX

位置:国内

Year: 1992*2/199

联系询价

Verified
10 小时前

集成电路参数分析仪

5500

量测检测

TESEC

位置:国内

Year: 2005

联系询价

Verified
10 小时前

芯片强度测试仪

1011

量测检测

INSTRON

位置:国内

Year: 1998

联系询价

Verified
10 小时前

交迭区测量仪

QUAESTOR

量测检测

BIORAD

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

显微镜

AL100

量测检测

OLYMPUS

位置:国内

Year: 1994

联系询价

Verified
10 小时前

晶片离子数量测量仪

TP-500

量测检测

Therma-Wave

位置:

Year: 1997

联系询价

Verified