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显示 1067 条结果

10 小时前

晶圆探测仪

P-8+

量测检测

TEL

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10 小时前

晶圆探测仪

P-8+

量测检测

TEL

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10 小时前

测量仪

P-11

量测检测

KLA

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10 小时前

平面测量台阶仪

P-11

量测检测

KLA

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10 小时前

膜厚仪

OP2600

量测检测

Therma-wave

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10 小时前

膜厚仪

OP2600

量测检测

Therma wave

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10 小时前

膜厚仪

6100

量测检测

Nanometrics

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10 小时前

浓度计

HF-960M

量测检测

HORIBA

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10 小时前

晶圆弯曲和晶圆应力测量

FLX-2908

量测检测

KLA

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10 小时前

晶圆弯曲和晶圆应力测量

FLX-2320

量测检测

KLA

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10 小时前

晶圆探测仪

STA2100N

量测检测

ACCRETECH/TSK

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10 小时前

晶圆探测仪

STA2100N

量测检测

ACCRETECH/TSK

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10 小时前

晶圆探测仪

STA2100N

量测检测

ACCRETECH/TSK

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10 小时前

晶圆探测仪

STA2100N

量测检测

ACCRETECH/TSK

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10 小时前

测量(新)

CSM/WIN C-V PLOT-C-V

量测检测

MDC

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10 小时前

表面分析仪

CS20

量测检测

KLA

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10 小时前

浓度计

CS-131-37

量测检测

HORIBA

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10 小时前

低倍显微镜

C-PS

量测检测

NIKON

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