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显示 1067 条结果

10 小时前

光谱仪

TREX610

量测检测

TECHNOS

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10 小时前

量测设备

ES31

量测检测

KLA

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10 小时前

量测设备

NC-80E-12

量测检测

位置:国外

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10 小时前

测试仪

CVMAP 3092-A

量测检测

FOUR Dimensions

位置:国外

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10 小时前

晶圆检测系统

SP2

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 2007/2012

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10 小时前

晶圆检测系统

SP2

量测检测

KLA

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10 小时前

测量设备

VM-2110

量测检测

DNS

位置:国外

Year: 2007

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10 小时前

测量设备

VM-2210

量测检测

DNS

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Year: 2008/2014

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10 小时前

测量设备

VR-120

量测检测

HITACHI

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10 小时前

测量设备

VR-70

量测检测

HITACHI

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10 小时前

测量设备

Archer A300 AIM

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 2010

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10 小时前

测量设备

SCD-XT

量测检测

KLA

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10 小时前

晶圆检测系统

SP1-TBI

量测检测

KLA

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10 小时前

测量设备

STARLIGHT301(300SL)

量测检测

KLA

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10 小时前

测量设备

3300

量测检测

N&K

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Year: 2003

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10 小时前

测量设备

M5100

量测检测

Nanometrics

位置:国外

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10 小时前

测量设备

Mentor DF3-SE

量测检测

OTHER

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10 小时前

测量设备

Matrix S200

量测检测

Rudolph

位置:国外

Year: 2008

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