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显示 1067 条结果

10 小时前

分析设备

HPS-376KT

量测检测

Hyer

位置:国外

Year: 2007

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10 小时前

温度测试设备

T2500SEA

量测检测

Thermonics

位置:国外

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10 小时前

温度测试设备

T2500SE

量测检测

Thermonics

位置:国外

Year: --

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10 小时前

反应室真空压力校正仪

IB-420

量测检测

LUCAS LABS

位置:国内

Year: --

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10 小时前

反应室真空压力校正仪

IB-420

量测检测

LUCAS LABS

位置:国内

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10 小时前

光学检测仪

MV-8VDH

量测检测

Mirtec

位置:国外

Year: 2013

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10 小时前

集成电路参数分析仪

TS80

量测检测

LTX

位置:国内

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10 小时前

集成电路参数分析仪

TS80

量测检测

LTX

位置:国内

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10 小时前

集成电路工艺制造用测试仪

PE3000

量测检测

LTX

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10 小时前

膜厚测试仪

ALPHA Step 200

量测检测

KLA

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10 小时前

扫描电子显微镜

S-5500

量测检测

HITACHI

位置:国外

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10 小时前

显微镜

MX50

量测检测

OLYMPUS

位置:国内

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10 小时前

缺陷检测机

CRS-1010S

量测检测

KLA

位置:国内

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10 小时前

缺陷检测机

CRS-1010S

量测检测

KLA

位置:国内

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10 小时前

缺陷检测机

CRS-1010S

量测检测

KLA

位置:国内

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10 小时前

缺陷检测机

CRS-1010S

量测检测

KLA

位置:国内

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10 小时前

晶片制程缺陷检测机

2110

量测检测

KLA

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10 小时前

膜厚测量仪

VM-1210

量测检测

SCREEN

位置:

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