中古半導体装置取引プラットフォーム | semicn.com
型番
カテゴリ
プラットフォーム紹介

SEMICNは世界をリードする中古半導体装置取引プラットフォームです。売買双方に透明かつ効率的な取引体験を提供します。

信頼できる売り手 透明な価格設定 グローバル対応
今すぐ閲覧
閲覧 EXCLUSIVES
CN 中文 TW 繁體中文 EN English JP 日本語 KR 한국어
全カテゴリ
  • 洗浄装置
  • 酸化拡散
  • フォトリソグラフィ・現像
  • エッチング
  • 薄膜堆積
  • イオン注入
  • CMP装置
  • 計測・検査
  • ウェーハテスト
  • ウェーハ薄化・切断
  • ボンディング・マウント
  • パッケージング後工程
  • ウェーハ搬送システム
  • 真空・排ガス処理
  • 流体供給
Moov Icon
型番
カテゴリ
中古半導体装置取引プラットフォーム | semicn.com
全カテゴリ
洗浄装置 酸化拡散 フォトリソグラフィ・現像 エッチング 薄膜堆積 イオン注入 CMP装置 計測・検査 ウェーハテスト ウェーハ薄化・切断 ボンディング・マウント パッケージング後工程 ウェーハ搬送システム 真空・排ガス処理 流体供給
Language
中文 繁體中文 English 日本語 한국어
会員ログイン
captcha

パスワードを忘れた方

アカウントをお持ちでない方? こちらから新規登録

フィルター
優先売り手
限定掲載
~
1980 2026

1067件の結果を表示

10 時間前

激光设备

PD-01341-E

計測・検査

Lasertack

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

耦合设备

50PA-521 SMA

計測・検査

JFW

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

质谱仪

LCMS-IT-TOF

計測・検査

SAMSUNG

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

显微镜

SZ-FLR

計測・検査

OLYMPUS奥林巴斯

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

检测仪

ZT-CGD-1

計測・検査

ZION TECH

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

实体显微镜设置

計測・検査

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

激光跟踪仪

AT500

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

光谱仪

CAS140B

計測・検査

INSTRUMENT SYSTEMS

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

检测设备

SSCMM-J2

計測・検査

TRIM

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

测量设备

JWS-300ST

計測・検査

JWON

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

测试设备

NSS3020F

計測・検査

MPS

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

气体检测仪

PRO-800

計測・検査

PROTEC

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

光学放大镜

MULTI-USE MAGNIFIER L-A-M-P

計測・検査

SE KI OPTICAL

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

光谱仪

ASP-100

計測・検査

SEERTECH

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

测量仪

LX4630A

計測・検査

TEKNOLOGUE

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

光学设备

LWI IV

計測・検査

Vision GmbH

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

滚轴点蚀试验机

Roller

計測・検査

KOMATSU NTC

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

量测设备

WORK TABLE

計測・検査

TESTER

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
  • 1ページ/全60ページ
  • 前のページ
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 次のページ
中古半導体装置取引プラットフォーム | semicn.com

4009 Banister Ln Suite 412,

 

Austin, TX 78704

© 2026 龍璽精密, Inc. 全著作権所有。

プライバシーポリシー | 利用規約 | CCPA & CPRA | | vP:CN:3.3.1

半導体会員ロゴ(白)
購入
購入方法 マーケットを閲覧 検索
販売
販売方法
探索
ホーム サービス
企業情報
龍璽精密について 会社紹介
フォローする
インターナショナル
  • English
  • 簡体中国語
  • 繁体中国語
  • 한국어
  • 日本語
購入リクエスト送信