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显示 1067 条结果

10 小时前

扫描电子显微镜

CG-4000

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: --

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10 小时前

分光测色仪

C-600

量测检测

UVP

位置:国外

Year: 2001

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10 小时前

小型高温试验箱

ST-120

量测检测

ESPEC

位置:国外

Year: 1998

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10 小时前

参数量测设备

SX141

量测检测

Synax

位置:国外

Year: 2005

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10 小时前

光谱仪

AANALYST 600

量测检测

Perkin Elmer

位置:国外

Year: 2002

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10 小时前

分析系统

CLM 3D

量测检测

FEI

位置:国外

Year: 2011

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10 小时前

原子力显微镜

Dimension X3D

量测检测

VEECO

位置:国外

Year: 2006

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10 小时前

射线荧光光谱仪

3272

量测检测

RIGAKU

位置:国外

Year: 2005

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10 小时前

光学计量系统

T600

量测检测

Nova

位置:国外

Year: 2014

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10 小时前

光刻测量设备

Caliper

量测检测

Nanometrics

位置:国外

Year: 2001

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10 小时前

光学测量仪

AQ2140

量测检测

ANDO

位置:国内

Year: --

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10 小时前

测量仪

BedeMetrix-F

量测检测

Jordan Valley

位置:国外

Year: 2006

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10 小时前

缺陷自动检测仪器

SEMVISION

量测检测

AMAT

位置:国内

Year: --

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10 小时前

电子束器件分析设备

XPEQT EM

量测检测

Chiron

位置:国外

Year: 2002

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10 小时前

电子束检测分析设备

DESTIN EM

量测检测

Chiron

位置:国外

Year: 2000

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10 小时前

影像检测系统

micromex 160

量测检测

Phoenix

位置:国外

Year: 2007

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10 小时前

薄膜测量设备

S3000SX

量测检测

Rudolph

位置:国外

Year: 2011

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10 小时前

薄膜测量设备

S3000S

量测检测

Rudolph

位置:国外

Year: 2011

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