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显示 1067 条结果

10 小时前

原子力显微镜

Insight 3D

量测检测

Bruker

位置:国外

Year: 2017

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10 小时前

薄膜测量分析设备

PS-2000

量测检测

Semilab

位置:国外

Year: 2015

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10 小时前

显微镜

PMG3

量测检测

OLYMPUS奥林巴斯

位置:国外

Year: --

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10 小时前

能谱仪

X- ACT

量测检测

Camtek

位置:国外

Year: 2012

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10 小时前

测量设备

RSR160

量测检测

RORZE

位置:国外

Year: 2017

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10 小时前

光谱仪

Q200I

量测检测

Nanometrics

位置:国外

Year: 2002

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10 小时前

光学检测计量设备

UVision 5

量测检测

AMAT

位置:国外

Year: 2011

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10 小时前

图示仪

TCT-2004

量测检测

KDK

位置:国内

Year: --

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10 小时前

显微镜

Holographic Microscope

量测检测

LYNCEE TEC

位置:国外

Year: 2012

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10 小时前

射线计量设备

JVX7300

量测检测

Jordan Valley

位置:国外

Year: 2012

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10 小时前

电子束检测设备

eP4

量测检测

Hermes

位置:国外

Year: 2017

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10 小时前

激光扫描发射系统

300 TDE

量测检测

CHECKPOINT

位置:国外

Year: 2011

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10 小时前

分析设备

P13010

量测检测

ANCOSYS

位置:国外

Year: 2011

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10 小时前

电子显微镜

1030

量测检测

E.A. Fischione

位置:国外

Year: 2005

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10 小时前

透射电子显微镜

ARM200CF Super X

量测检测

JEOL

位置:国外

Year: 2014

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10 小时前

晶圆检测测量

ExSolve 2 WTP EFEM

量测检测

FEI

位置:国外

Year: 2017

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10 小时前

扫描电子显微镜

LEA1530

量测检测

Carl Zeiss

位置:国外

Year: 2002

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10 小时前

电子显微镜

HF-2000

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: 1995

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