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显示 1067 条结果

10 小时前

计量检测

HS-830

量测检测

TORAY

位置:国外

Year: 2010

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10 小时前

薄膜分析设备

JVX6200i

量测检测

Jordan Valley

位置:国外

Year: 2011

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10 小时前

光学显微镜

Polyvar +AL100

量测检测

Olympus

位置:国内

Year: --

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10 小时前

光学显微镜

Optiphot300

量测检测

NIKON

位置:国内

Year: --

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10 小时前

脉冲信号发生器

81110A

量测检测

Agilent

位置:国外

Year: --

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10 小时前

扫描电子显微镜

JWS-7555

量测检测

JEOL

位置:国外

Year: 2002

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10 小时前

检测设备

SPVCMS4000

量测检测

Semilab

位置:国外

Year: 1995

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10 小时前

薄膜测量系统

Polylite 88

量测检测

KLA

位置:国外

Year: --

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10 小时前

扫描电子显微镜

JWS-7515

量测检测

JEOL

位置:国外

Year: 1999

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10 小时前

晶圆检测设备

PEGSIS P100

量测检测

LASERTEC

位置:国外

Year: 2011

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10 小时前

扫描电子显微镜

S5000

量测检测

HITACHI

位置:国外

Year: 1997

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10 小时前

晶圆载台控制器

CRS1010

量测检测

KLA

位置:国外

Year: 1998

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10 小时前

光检查系统

XSCAN-A130H

量测检测

XAVIS

位置:国内

Year: --

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10 小时前

计数器

Lasair 110

量测检测

PMS

位置:国外

Year: 2013

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10 小时前

晶圆厚度量测仪

UMA-200-BP

量测检测

MicroSense

位置:国内

Year: --

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10 小时前

薄膜厚度测量仪

TWI-OP5×40

量测检测

NIHON DENSAN

位置:国内

Year: --

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10 小时前

薄膜计量设备

V220SI

量测检测

VEECO

位置:国外

Year: --

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10 小时前

检测设备

PDS-100

量测检测

VLSI Standard

位置:国外

Year: 2000

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