全部分类
清洗设备 氧化扩散 光刻显影 刻蚀 薄膜沉积 离子注入 CMP设备 量测检测 晶圆测试 晶圆减薄切割 键合贴装 封装后处理 晶圆传输系统 真空及废气处理 流体供给
Language
中文 繁體中文 English 日本語 한국어

显示 1067 条结果

10 小时前

离子色谱系统

DX-320

量测检测

Dionex

位置:

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

晶圆检测系统

WIND AWIS-1200

量测检测

ATI

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

冲击试验机

SM-105-MP

量测检测

AR BROWN

位置:

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

检测设备

LI2000

量测检测

YASUNAGA

位置:

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

监测仪

M158

量测检测

ADVANCED

位置:

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

光学轮廓仪

CCI MP-HS

量测检测

Taylor Hobson

位置:

Year: 2014

联系询价

Verified
10 小时前

粗糙度测量仪

TSM 3000W-RCZ

量测检测

SMS

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

分析天平

AEU-210

量测检测

SHIMADZU

位置:

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

温湿度记录仪

SR412+CT-2

量测检测

SATO

位置:

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

尘埃粒子计数器

KM-27

量测检测

RION

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

尘埃粒子计数器

KC-20

量测检测

RION

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

显微镜

BH2-UMA

量测检测

OLYMPUS奥林巴斯

位置:

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

显微镜

MX-50A-F

量测检测

OLYMPUS

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

显微镜

L300

量测检测

NIKON

位置:

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

显微镜

L200

量测检测

NIKON

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

膜厚仪

M3000

量测检测

Nanometrics

位置:国内

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

表面粗糙度测量

SE-30D

量测检测

KOSAKA

位置:

Year: --

联系询价

Verified
10 小时前

缺陷检测设备

2135

量测检测

KLA

位置:国内

Year: 1998

联系询价

Verified