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1980 2026

1067件の結果を表示

10 時間前

量测设备

UVision 4

計測・検査

AMAT

所在地:国外

Year: 2009

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10 時間前

颗粒探测系统

PR-PD2

計測・検査

Horiba

所在地:国外

Year: 2005

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10 時間前

线宽测量仪

JWS7500E

計測・検査

JEOL

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

电子显微镜

HD2300

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: 2006

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10 時間前

场发射透射电子显微镜

JEM3200FS

計測・検査

JEOL

所在地:国外

Year: 2006

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10 時間前

晶圆缺陷检测系统

3Di8500

計測・検査

Rudolph

所在地:国外

Year: 2008

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10 時間前

失效分析仪

S-5000

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

晶圆检测设备

Axi-S

計測・検査

Rudolph

所在地:国外

Year: 2005

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10 時間前

微尘计数器

LS-6000

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

硅片厚度测试仪

IDF-112

計測・検査

HECKEL

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

光刻测量设备

Caliper Elan

計測・検査

Nanometrics

所在地:国外

Year: 2005

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10 時間前

光刻测量设备

Caliper Mosaic

計測・検査

Nanometrics

所在地:国外

Year: 2011

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10 時間前

表面轮廓仪

NANOMAPPER

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 2006

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10 時間前

哈克流变仪

RS6000

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: 2014

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10 時間前

晶圆缺陷检测

IS3200SE

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: 2010

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10 時間前

扫描电子显微镜

RS4000

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: 2007

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10 時間前

超声波扫描仪

FS300Il

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: 2023

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10 時間前

原子吸收光谱仪

ZA3300

計測・検査

HITACHI

所在地:国内

Year: 2021

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