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1067件の結果を表示

10 時間前

扫描电子显微镜

CG-4000

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

分光测色仪

C-600

計測・検査

UVP

所在地:国外

Year: 2001

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10 時間前

小型高温试验箱

ST-120

計測・検査

ESPEC

所在地:国外

Year: 1998

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10 時間前

参数量测设备

SX141

計測・検査

Synax

所在地:国外

Year: 2005

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10 時間前

光谱仪

AANALYST 600

計測・検査

Perkin Elmer

所在地:国外

Year: 2002

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10 時間前

分析系统

CLM 3D

計測・検査

FEI

所在地:国外

Year: 2011

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10 時間前

原子力显微镜

Dimension X3D

計測・検査

VEECO

所在地:国外

Year: 2006

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10 時間前

射线荧光光谱仪

3272

計測・検査

RIGAKU

所在地:国外

Year: 2005

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10 時間前

光学计量系统

T600

計測・検査

Nova

所在地:国外

Year: 2014

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10 時間前

光刻测量设备

Caliper

計測・検査

Nanometrics

所在地:国外

Year: 2001

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10 時間前

光学测量仪

AQ2140

計測・検査

ANDO

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

测量仪

BedeMetrix-F

計測・検査

Jordan Valley

所在地:国外

Year: 2006

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10 時間前

缺陷自动检测仪器

SEMVISION

計測・検査

AMAT

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

电子束器件分析设备

XPEQT EM

計測・検査

Chiron

所在地:国外

Year: 2002

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10 時間前

电子束检测分析设备

DESTIN EM

計測・検査

Chiron

所在地:国外

Year: 2000

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10 時間前

影像检测系统

micromex 160

計測・検査

Phoenix

所在地:国外

Year: 2007

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10 時間前

薄膜测量设备

S3000SX

計測・検査

Rudolph

所在地:国外

Year: 2011

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10 時間前

薄膜测量设备

S3000S

計測・検査

Rudolph

所在地:国外

Year: 2011

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