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1067件の結果を表示

10 時間前

原子力显微镜

Insight 3D

計測・検査

Bruker

所在地:国外

Year: 2017

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10 時間前

薄膜测量分析设备

PS-2000

計測・検査

Semilab

所在地:国外

Year: 2015

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10 時間前

显微镜

PMG3

計測・検査

OLYMPUS奥林巴斯

所在地:国外

Year: --

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10 時間前

能谱仪

X- ACT

計測・検査

Camtek

所在地:国外

Year: 2012

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10 時間前

测量设备

RSR160

計測・検査

RORZE

所在地:国外

Year: 2017

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10 時間前

光谱仪

Q200I

計測・検査

Nanometrics

所在地:国外

Year: 2002

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10 時間前

光学检测计量设备

UVision 5

計測・検査

AMAT

所在地:国外

Year: 2011

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10 時間前

图示仪

TCT-2004

計測・検査

KDK

所在地:国内

Year: --

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10 時間前

显微镜

Holographic Microscope

計測・検査

LYNCEE TEC

所在地:国外

Year: 2012

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10 時間前

射线计量设备

JVX7300

計測・検査

Jordan Valley

所在地:国外

Year: 2012

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10 時間前

电子束检测设备

eP4

計測・検査

Hermes

所在地:国外

Year: 2017

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10 時間前

激光扫描发射系统

300 TDE

計測・検査

CHECKPOINT

所在地:国外

Year: 2011

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10 時間前

分析设备

P13010

計測・検査

ANCOSYS

所在地:国外

Year: 2011

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10 時間前

电子显微镜

1030

計測・検査

E.A. Fischione

所在地:国外

Year: 2005

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10 時間前

透射电子显微镜

ARM200CF Super X

計測・検査

JEOL

所在地:国外

Year: 2014

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10 時間前

晶圆检测测量

ExSolve 2 WTP EFEM

計測・検査

FEI

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Year: 2017

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10 時間前

扫描电子显微镜

LEA1530

計測・検査

Carl Zeiss

所在地:国外

Year: 2002

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10 時間前

电子显微镜

HF-2000

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: 1995

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