全カテゴリ
洗浄装置 酸化拡散 フォトリソグラフィ・現像 エッチング 薄膜堆積 イオン注入 CMP装置 計測・検査 ウェーハテスト ウェーハ薄化・切断 ボンディング・マウント パッケージング後工程 ウェーハ搬送システム 真空・排ガス処理 流体供給
Language
中文 繁體中文 English 日本語 한국어

1067件の結果を表示

10 時間前

计量检测

HS-830

計測・検査

TORAY

所在地:国外

Year: 2010

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

薄膜分析设备

JVX6200i

計測・検査

Jordan Valley

所在地:国外

Year: 2011

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

光学显微镜

Polyvar +AL100

計測・検査

Olympus

所在地:国内

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

光学显微镜

Optiphot300

計測・検査

NIKON

所在地:国内

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

脉冲信号发生器

81110A

計測・検査

Agilent

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

扫描电子显微镜

JWS-7555

計測・検査

JEOL

所在地:国外

Year: 2002

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

检测设备

SPVCMS4000

計測・検査

Semilab

所在地:国外

Year: 1995

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

薄膜测量系统

Polylite 88

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

扫描电子显微镜

JWS-7515

計測・検査

JEOL

所在地:国外

Year: 1999

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

晶圆检测设备

PEGSIS P100

計測・検査

LASERTEC

所在地:国外

Year: 2011

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

扫描电子显微镜

S5000

計測・検査

HITACHI

所在地:国外

Year: 1997

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

晶圆载台控制器

CRS1010

計測・検査

KLA

所在地:国外

Year: 1998

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

光检查系统

XSCAN-A130H

計測・検査

XAVIS

所在地:国内

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

计数器

Lasair 110

計測・検査

PMS

所在地:国外

Year: 2013

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

晶圆厚度量测仪

UMA-200-BP

計測・検査

MicroSense

所在地:国内

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

薄膜厚度测量仪

TWI-OP5×40

計測・検査

NIHON DENSAN

所在地:国内

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

薄膜计量设备

V220SI

計測・検査

VEECO

所在地:国外

Year: --

価格はお問い合わせ

Verified
10 時間前

检测设备

PDS-100

計測・検査

VLSI Standard

所在地:国外

Year: 2000

価格はお問い合わせ

Verified